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E1 set 抗干扰开发系统

E1 set 抗干扰开发系统

产品描述
主要特点
技术参数

  E1抗干扰性开发系统是一套集成电路板开发过程中进行抗干扰分析的 EMC工具系统。采用E1抗干扰开发系统,能够快速精准地定位脉冲群干扰和静电放电干扰的原因(薄弱点),使工程师开发人员能够准确针对薄弱点设计恰当的 EMC措施,并且使用 E1 评估 EMC措施的效果。E1 检测设备的搭建空间小,适宜于在电子元件开发人员的工作场地使用。E1 用户手册对EMC工作机制以及集成电路板去干扰的基本测量策略作出详细描述。E1 组套包括一个脉冲群干扰和静电放电干扰发生器、九种不同的电场和磁场源、以及其他各类附件。

  

E1抗干扰性

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主要特点:

  通过SGZ21发生器对PCB直接加干扰,分析干扰电流路径;

  用场源来定位故障点;

  测量磁突发场来跟踪干扰电流;

  监测PCB上的关键的逻辑信号;

  再现标准测试期间出现的问题,分析干扰电流路径;

  在场源的帮助下,定位易受干扰影响的连线和器件;

  可以监测关键的逻辑信号并测量磁干扰场。

 

 

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2020-05-16 20:29:18
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E1 set 抗干扰开发系统
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