XF-R 3-1 磁场探头(30MHz~6GHz)
产品描述
主要特点
技术参数
XF-R 3-1型近场探头,用于高分辨率直接检测组件上,比如IC的引脚或外壳、布线、旁路电容器等元器件区域的射频磁场。这种近场探头小巧轻便,并采用外皮电流衰减。磁场探头采用电屏蔽设计。这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部安装有终端电阻。
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