H3 set 场源组
不同类型的场源探头满足各种测试需求,可精确定位到毫米级,并可检测出干扰路径上的关键连接点,如元器件、导线或集成电路引脚。抗干扰测试中追寻敏感点的E场源和B场源。场源组包括4个B-场源探头、5个E-场源探头及高压电缆和包装箱。
原理:
在抗干扰测试中,要求向被测设备施加干扰电压,或者通过一些规定的耦合方法施加干扰电流。这些干扰信号会被施加到被测设备的电缆、机箱或者接插件上,因此产生脉冲式的电场和磁场。如果被测设备内部某些单元电路不能抵抗这些干扰,设备就不能通过EMC测试。场源组包含了各种尺寸的场源探头,可以由大到小,快速定位敏感点位置。
应 用 |
描 述 |
设 计 |
BS 02-h磁场场源主要用于电路布局中的薄弱点定位。 它产生一个覆盖直径大约为5厘米的磁场束,能够较大面积地作用于电路外壳表面及其内部区域、连接部分、有导线的模块以及集成电路等区域,从而进行对磁场敏感薄弱点的识别和定位。 |
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BS 04DB-h型磁场源产生直径大约为3mm的磁场。借助其正面发出的磁场可以对印刷电路板的表面进行采样,这样就能消除电路布局和装配区域内的磁薄弱点。还可以定位关键的导体段,关键的组件和这些组件的连接。 |
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BS 05DB-h型磁场源从其探头的尖端发出直径大约为1mm微小磁场,因此适用于定位点状的薄弱点。借助其发出的微小磁场可以对印刷电路板和组件的表面进行采样。因其探头的微小直径和生成磁场的准确绑定而具有较高的分辨率。 |
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BS 05DU-h 型磁场源在其尖端产生直径大约为几毫米的微小磁场。它的工作原理如同耦合钳,能够将干扰电流有选择地耦合到单个导体、IC引脚、组件以及细线(扁平带状线缆)。 |
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借助ES 00-h型电场源可以大范围地定位电场敏感点。通常这些敏感区在组件(例如LCD显示器及总线系统)上会达到1~15cm。ES 00-h型电场源也可用于耦合例如组件电缆中的干扰电流。 |
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ES 01-h 型电场源可以实现大范围内的电耦合。这种场源适合于向5到10厘米范围内的薄弱点施加电场干扰。它介于ES 00-h型和ES 02-h型电场源之间。 |
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ES 02-h场源面积较大,能够大范围地向机箱表面,连接件,带导体结构的模块以及集成电路(如总线系统,液晶显示器)等施加耦合干扰电场。该场源的尖端部位,也可用于定位对电场敏感的较小结构(导线,晶振,上拉电阻,IC等)。 |
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ES 05D-h型电场源的探头内有一个狭窄的去耦合电极。因此适合于想导线、小型元件机器连接器、线缆及单个的元件施加电场。它还可以用于测量那些单个的插接件或扁平带状电缆的芯线。 |
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ES 08D-h 型电场源是一个探针,用于检查集成电路引脚或者布线等的敏感度。检测时,探头的尖端连接到引脚或布线,通过改变EFT或爆冲发生器的干扰脉冲强度检测引脚的灵敏度。在场源内部,干扰脉冲电容式地耦合到探针,因此不会影响到有效信号。 |
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