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    • XFS-R 3-1扫描仪近场探头(30 MHz-6 GHz)
    • XFS-R 3-1扫描仪近场探头(30 MHz-6 GHz)
    • 品牌 LANGER
    • 行业1
    • 行业
    • 描述 XFS-R 3-1 型磁场探头适用于近距离测量高磁场强度元器件。扫描探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部有50Ω的终端阻抗。
    • 关键参数
    • 品牌 LANGER
    • XFS-E 10扫描仪近场探头(30 MHz-6 GHz)
    • XFS-E 10扫描仪近场探头(30 MHz-6 GHz)
    • 品牌 LANGER
    • 行业1
    • 行业
    • 描述 XFS-E 10探头是无源近场探头,通常探头直接放置在被测物体上(高电场强度)。扫描探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部有50Ω的终端阻抗。
    • 关键参数
    • 品牌 LANGER
    • XFS-E 09s扫描仪近场探头(30 MHz-6 GHz)
    • XFS-E 09s扫描仪近场探头(30 MHz-6 GHz)
    • 品牌 LANGER
    • 行业1
    • 行业
    • 描述 XSF-E 09是一个无源近场探测器。测量时,电场探头位于元件和印刷电路板的上方。扫描探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部有50Ω的终端阻抗。
    • 关键参数
    • 品牌 LANGER
    • SX-R 20-1 set 近场探头(1 GHz-20 GHz)
    • SX-R 20-1 set 近场探头(1 GHz-20 GHz)
    • 品牌 LANGER
    • 行业1
    • 行业
    • 描述 SX-R 20-1由一个无源近场探头组成,用于在开发阶段测量电子组件和集成电路上高达20GHz的高时钟频率的磁场。
    • 关键参数
    • 品牌 LANGER
    • SX-R 3-1 近场探头(1 GHz-10 GHz)
    • SX-R 3-1 近场探头(1 GHz-10 GHz)
    • 品牌 LANGER
    • 行业1
    • 行业
    • 描述 SX-R 3-1型磁场探头尺寸小,用于高分辨率测量高频磁场,因而能够识别出作为潜在干扰源的最小元件。
    • 关键参数
    • 品牌 LANGER
    • SX-E 03 近场探头(1 GHz-10 GHz)
    • SX-E 03 近场探头(1 GHz-10 GHz)
    • 品牌 LANGER
    • 行业1
    • 行业
    • 描述 SX-E 03型探头底部的电极尺寸约为4x4mm,用于检测定位很小的电场源,例如导线、集成电路板上的单个元器件。
    • 关键参数
    • 品牌 LANGER
    • SX1 set 近场探头组(1 GHz-10 GHz)
    • SX1 set 近场探头组(1 GHz-10 GHz)
    • 品牌 LANGER
    • 行业1
    • 行业
    • 描述 SX 1近场探头组包含3个无源近场探头,用于在研发阶段测量电子模块上的电场和磁场,频率范围为1GHz到10GHz。
    • 关键参数
    • 品牌 LANGER
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