P600及P750 set 传导发射测量
产品描述
主要特点
技术参数
该探头套件用于直接对单个集成电路引脚的电流和电压进行射频测量。该探头套件能够确保较高的测量重复精度和测量的可比较性。 使用LANGER公司的ICE1集成电路测试环境,可以对被测集成电路进行测试。ChipScan-ESA 芯片扫描软件可以控制测量过程,并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系统地分析比较。
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