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P603及P750 set 传导发射测量

P603及P750 set 传导发射测量

产品描述
主要特点
技术参数

       该探头套件用于测量IC引脚的传导发射(采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量)。分别有一个用于测试电流和电压的探头。该探头能够接触到测试IC的每个引脚。 该探头套件能够确保较高的测量重复精度和测量的可比较性。 使用LANGER公司的ICE1集成电路测试环境,可以对被测集成电路进行测试。ChipScan-ESA 芯片扫描软件可以控制测量过程,并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系统地分析比较。

未找到相应参数组,请于后台属性模板中添加

P603/P750 set 包含以下附件:

推荐选件:

 

1. P603 1Ω高频电流表

频率范围

9kHz~3 GHz

耦合电容的容量

8 µF

测量输出

50 Ω, SMB

电压传递系数

-6 dB

分流器

1 Ω

电流修正系数

-6 dBΩ

电感

1 nH

最大功率损耗

2.5 W

2. P750 150Ω高频电

频率范围

150 kHz~3 GHz

输入电阻

150 Ω

测量输出

50 Ω, SMB

电压传递系数

-15.2 dB

最大直流输入电压

50 V

最大射频输入电压

3.5 V

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分类:
LANGER
文件大小:
890KB
下载量:
0
2020-05-23 16:25:18
所属人群:
所有人
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产品编号:
P603及P750 set 传导发射测量
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