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P603及P750 set 传导发射测量

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该探头套件用于测量IC引脚的传导发射（采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量）。

关键参数:

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产品描述

主要特点

技术参数

该探头套件用于测量IC引脚的传导发射（采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量）。分别有一个用于测试电流和电压的探头。该探头能够接触到测试IC的每个引脚。该探头套件能够确保较高的测量重复精度和测量的可比较性。使用LANGER公司的ICE1集成电路测试环境，可以对被测集成电路进行测试。ChipScan-ESA 芯片扫描软件可以控制测量过程，并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系统地分析比较。

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P603及P750set传导发射测量

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2020-05-23 16:25:18

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频率范围	9kHz～3 GHz
耦合电容的容量	8 µF
测量输出	50 Ω, SMB
电压传递系数	-6 dB
分流器	1 Ω
电流修正系数	-6 dBΩ
电感	1 nH
最大功率损耗	2.5 W

频率范围	150 kHz~3 GHz
输入电阻	150 Ω
测量输出	50 Ω, SMB
电压传递系数	-15.2 dB
最大直流输入电压	50 V
最大射频输入电压	3.5 V