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S603及S750 set 基于IEC61967-4标准的传导发射测量

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LANGER

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描述:

该探头组用于测量1欧姆/150欧姆的传导发射，采用的是集成电路引脚上的直接耦合方法。S603探头用于电流测量，S750探头用于电压测量。

关键参数:

品牌:

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产品描述

主要特点

技术参数

该探头组用于测量1欧姆/150欧姆的传导发射，采用的是集成电路引脚上的直接耦合方法。S603探头用于电流测量，S750探头用于电压测量。S603/S750的测量结果保证了测量结果的高重复性和可比性。使用ChipScan-ESA软件进行测量，并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系统地分析比较。

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S603及S750set基于IEC61967-4标准的传导发射测量

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2020-05-23 16:26:19

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频率范围	DC～3 GHz
测量输出	50 Ω, SMB
电压传递系数	-6 dB
电流修正系数	-6 dBΩ
分流器	1 Ω
调节电阻	49 Ω
输出电阻 (no load)	50 Ω
最大功率损耗	2.5 W
重量	42 g
尺寸 (L x W x H)	(60 x 45 x 14) mm

频率范围	100 kHz～3 GHz
输入电阻	145 Ω
调节电阻	51 Ω
测量输出	50 Ω, SMB
电压传递系数	-15.2 dB
最大直流输入电压	50 V
最大射频输入电压	3.5 V
重量	39 g
尺寸 (L x W x H)	(60 x 45 x 14) mm