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瞬变电磁场辐射敏感度测试系统NEMP

瞬变电磁场辐射敏感度测试系统NEMP

产品描述
主要特点
技术参数

  NEMP 瞬变电磁场辐射敏感度测试系统,根据MIL-STD-461 / RS105,该测试装置可用于印刷电路板、小型子系统等小型设备的抗扰度测试。该系统由一个控制单元和一个包括直接连接到辐射线的高压单元的线路组件组成。高压单元和天线固定在一个稳定、坚固的框架上,可以很容易地移动和放在桌子上。控制单元通过高压电缆和控制电缆连接到线路结构上。测试系统可以通过RS232和USB接口由计算机控制。在完全充电电压下,线路下的最小电场为50kv /m。对于放置在靠近行首的较小对象,可以实现更高的场强。

未找到相应参数组,请于后台属性模板中添加

型号

EMP25K-2-23 + RL50-50

参照标准

MIL-STD461-E / F, paragraph RS105

充电电压

0.2 to 25 kV

峰值电场

50 kV/m

上升时间 (10 – 90 %)

2.3 ns  ± 0.5 ns

脉冲长度 100 ohm (50 – 50 %)

23 ns  ± 5 ns

线性

bounded wave line / TEM mode

线性阻抗

100 ohm

EUT尺寸

17 cm (according to MIL-STD461 / RS105)

连接线缆

2

输入电压电流

85 - 264 Vac  / 50 - 60 Hz / 150 VA

控制器尺寸

56 x 19 x 45 cm  (L x H x W)

控制器重量

10 kg

 

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分类:
MONTENA
文件大小:
449KB
2020-06-07 15:14:35
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瞬变电磁场辐射敏感度测试系统NEMP
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